Skaningowy mikroskop sił atomowych

Skaningowy mikroskop sił atomowych (AFM) i jego zastosowanie w medycynie

W ostatnim dziesięcioleciu, mikroskopia sił atomowych (AFM – ang. Atomic Force Microscopy) stała się coraz powszechniejszą metodą badawczą wykorzystywaną w naukach przyrodniczych i medycznych. Działanie mikroskopów tego typu polega na pomiarze oddziaływań występujących pomiędzy badaną próbką a sondą, posiadającą kształt ostro zakończonej igły. Pomiar sił działających pomiędzy próbkującą sondą AFM a badaną powierzchnią jest dokonywany z dokładnością rzędu pikoNewtonów. Dokładna kontrola stosowanej siły oraz rozmiary próbkującego ostrza (rzędu kilku, kilkudziesięciu nanometrów) umożliwiają precyzyjny i prawdziwie lokalny pomiar własności mechanicznych, takich jak sztywność, mikrotarcie czy adhezja.